Analizador de aleación XRF portátil

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última actualización: 2021-08-23 01:35
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Detalles del producto

Analizador de aleación XRF de mano H500

Simplemente el mejor

El metal forma un material esencial en la fabricación moderna, los productos metálicos se utilizan en todas partes.

El uso de ED-XRF permite medir una amplia gama de elementos y concentraciones - Na(11)-U(92) - sin necesidad de preparaciones de muestras (calentar o destruir la muestra). Las muestras se pueden medir en forma de polvos sueltos o prensadas en pellets y listas para su medición en cuestión de segundos.

ED-XRF puede medir volúmenes de muestra más grandes, lo que resulta en una mejor caracterización de los productos finales y proporciona alta precisión y precisión con excelentes límites de detección (0,1 – 1 mg/kg).


La espectroscopia de fluorescencia de rayos X dispersas de energía (ED-XRF) es uno de los métodos analíticos más simples, precisos y económicos para la determinación de la composición química de varios productos finales o intermedios en la industria de los metales. ED-XRF desempeña un papel dominante en el control de calidad de los diversos procesos de la industria del metal. El análisis elemental no destructivo se puede realizar en cada paso del proceso, desde minerales hasta aleaciones terminadas.


Antecedentes e introducción

Analizador portátil de fluorescencia de rayos X (XRF), a veces conocido como una pistola XRF portátil, se utilizan para analizar la composición química de los materiales. La iluminación con rayos X hace que cada elemento fluoresce en una longitud de onda característica. Las aleaciones ESI H-500 y los analizadores XRF portátiles de metales proporcionan una química de materiales altamente específica para identificar rápida y precisamente los grados de aleación y los metales puros. Identificación de la química de la aleación y el ID de grado en segundos, desde la clasificación simple hasta las separaciones de grado desafiantes, desde la inspección de materiales entrantes hasta la verificación del producto final.


Especificaciones técnicas

Método analítico

Fluorescencia de rayos X dispersa de energía

PDA con pantalla táctil

CPU: 1G, Memoria del sistema: 1G, datos estándar de almacenamiento masivo 4G, soporte máximo almacenado extendido hasta 32G, pantalla táctil LCD grande, resolución 1820x720

Análisis inteligente

Modo de prueba de selección automática basado en matriz de muestras

Fuente de excitación

50KV/200μA – Tubo de rayos X en miniatura integrado de la ventana final Ag/Rh y fuente de alimentación de alta tensión

Colimador & Filtro

Colimador múltiple y filtros con funciones de conmutación automática

Detector

Detector de deriva de silicio (SDD)

Resolución de detectores

Hasta 125eV

Estados de muestra

Sólidos, líquidos, polvos

Rango elemental

Números atómicos entre 12 (Mg) y 92 (U)

Límite de detección

1 – 500ppm, dependiendo de la matriz de elementos y muestras

Tiempo de análisis

3-60 segundos

Análisis simultáneo

Muestra hasta 40 elementos a la vez

Rango de visualización

ppm – 99,99%

Sistema de vista de muestras

Cámara integrada de alta resolución

Conectividad

USB, GPS, Wi-Fi o Bluetooth

Seguridad

Apagado automático del tubo de rayos X, marco de instrumento forrado por Pb, niveles de radiación dentro de los estándares internacionales de seguridad

Fuente de alimentación

La batería recargable Li, estándar de 9000mAh, proporciona hasta 12 horas de funcionamiento con una sola carga; Adaptador universal de 110/220V para cargar

Temperatura

-20ºC a +50ºC

Humedad

≤90%

Peso

1,75 kg


Aplicaciones típicas:

Identificación rápida de material positivo no destructivo (PMI)

Clasificación y verificación de chatarra

Verificación de grado de aleación

Pruebas de oro: Pureza, Quilate (Karat), Oro en aleaciones

Aleaciones aeroespaciales QA/QC

Composición de aleaciones dentales


Rendimiento de prueba del Acero Inoxidable-316

Modelo de instrumento: Analizador XRF portátil H-500

Muestra:

Acero inoxidable 316

Tiempo de prueba:

30 segundos



No. de la lectura

Curva de calibración

Cr %

Mn %

Fe %

Ni %

Cu %

Mo %

1

Acero de alta aleación

16.648

0.878

69.346

10.121

0.309

1.987

2

Acero de alta aleación

16.688

0.849

69.356

10.100

0.325

1.983

3

Acero de alta aleación

16.642

0.872

69.435

10.061

0.315

1.991

4

Acero de alta aleación

16.679

0.918

69.276

10.102

0.311

1.975

5

Acero de alta aleación

16.611

0.899

69.266

10.196

0.305

1.984

6

Acero de alta aleación

16.652

0.888

69.422

10.021

0.304

1.996

7

Acero de alta aleación

16.722

0.865

69.305

10.098

0.318

1.975

8

Acero de alta aleación

16.702

0.836

69.438

10.037

0.313

1.988

9

Acero de alta aleación

16.629

0.876

69.382

10.076

0.312

1.963

10

Acero de alta aleación

16.642

0.864

69.388

10.117

0.302

1.974

Gamas

0.111

0.082

0.172

0.175

0.023

0.032

Promedio

16.662

0.874

69.361

10.093

0.311

1.982

Desviación estándar Sn

0.0349

0.0236

0.0633

0.0492

0.0071

0.0096

Rsd

0.209%

2.694%

0.091%

0.488%

2.276%

0.486%


Rendimiento de prueba de la precisión SS304 con H500:

10 segundos de precisión de medición de los principales elementos en acero inoxidable 304


Cr

Mn

Ni

Cu

Mo

Promedio

18.232

0.926

8.072

1.236

0.288

Valor certificado

17.940

0.980

8.180

1.230

0.298

Desviación estándar

0.072

0.055

0.086

0.043

0.008

RSD(%)

0.395

5.936

1.067

3.506

2.693

Precisión (%)

98.370

94.486

98.681

99.510

96.574


El siguiente es el espectro de estándares de acero inoxidable con un contenido de Ni de sólo 0,108%.。


¿Qué es la fluorescencia de rayos X?


Cuando la radiografía de excitación primaria emitida desde el tubo de rayos X colisiona con una muestra, se dispersará por una radiografía absorbida a un átomo o penetrada a través de la sustancia. El efecto fotoeléctrico se refiere a un proceso cuando la radiografía transfiere toda la energía a la parte más profunda y es absorbida por un átomo. En este proceso, si la radiografía primaria tiene suficiente energía, el electrón sobresale desde dentro para crear espacio. Este espacio vacío se refiere a la inestabilidad del átomo.
Atom siempre intenta volver al estado estable; por lo tanto, el electrón exterior se transferirá al lado interno y en este proceso, se emite una energía x-ray específica. Cada átomo tiene la serie de niveles de energía para emitir la radiografía específica.
Esta emisión de rayos X se denomina "Fluorescencia de rayos X (XRF)" y la composición del átomo en una muestra mediante el uso de esta propiedad se puede medir a través de una prueba no destructiva


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